2024-10-18 까지의 사용 예정건만 예약 가능
| 월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 | 일 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | X | X |
점심시간 이용불가 : 12:00 ~ 13:00
 |
<<<<<<예약 전 안내사항>>>>>>
**EDS 점검 중
-선택하신 장비일정이 비어있더라도 담당자일정을 클릭하여 일정확인바랍니다.
-대기기간이 길수록 노쇼로 이어질 확률이 높습니다. 구체적인 일정이 정해지면 예약해주시길 바랍니다.
* 분석중에는 전화연결이 어렵습니다. 이메일(bk0330@seoultech.ac.kr)로 연락주시면 회신드리겠습니다. |
(FE-SEM)
-Accelerating Voltage : 0.5 ~ 30kV
-Magnification : 25 ~ 100,000
-Resolution : 1.0㎚(15kV), 2.2㎚(1kV)
-Image : SEI, BEI
(EDS)
-Detectable element : B(5) ~ U(92)
-Detection range : 120eV ~ 20keV
-Resolution : 139eV
-용도설명 : 고진공중에서 금속표면에 강한 양전위를 걸어 주어 전자를 표면으로부터 떼어내는 방식으로 열전자에 비해 전류밀도가 매우 높기 때문에 고휘도의 전자빔을 얻을 수 있다. 따라서 일반 주사 현미경보다 고분해능,고배율로 분석이 가능하고, 에너지분산분석기(EDS)를 부착하여 시료의 전체적인 정성, 정량분석 및 구성원소의 분포확인이 가능하다.
-응용분야 : SEM 본체에 EDS를 부착하여시료의 전체적인 성분분석 가능
나노 수준의 미세구조 관찰
표면구조의 고해상도/고배율 관찰
금속, 무기재료, 반도체, 섬유, 세라믹, 고분자 물질 등 광범위 시료의 미세 조직 관찰
에너지분산분석기(EDS)를 이용한 시료의 정성, 정량분석 및 구성원소의 분포 확인 등
표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
| 구분 | 항목 | 단위 | 교외 | 교내 | 가족회사(골드) | 가족회사(실버) | 가족회사(브론즈) | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
분석의뢰 |
기기사용료 | 30분 | 30,000 | 15,000 | 9,000 | 15,000 | 21,000 | |
| 전처리(Coating) | 회 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | ||
| EDS | 회 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | ||
| 기기사용료(1시간) | 시간 | 60,000 | 30,000 | 18,000 | 30,000 | 42,000 | ||
|
직접사용 |
기기사용료 | 30분 | 30,000 | 15,000 | 9,000 | 15,000 | 21,000 | |
| 전처리(Coating) | 회 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | ||
| 추가사용(30분) | 회 | 30,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | ||
| 기기사용료(1시간) | 시간 | 60,000 | 30,000 | 18,000 | 30,000 | 42,000 |
