2024-11-03 까지의 사용 예정건만 예약 가능
| 월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 | 일 |
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| 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | X | X |
점심시간 이용불가 : 12:00 ~ 14:00
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<<<<<<예약 전 안내사항>>>>>>
* 주사전자현미경2(ZEISS EVO10)에 부착된 장비입니다. -주사전자현미경2의 일정이 비어있는지 확인 후 예약바랍니다.
* 분석의뢰일 경우 담당자일정(타기기분석, 행정업무, 회의 등)과 중복시 취소 처리됩니다. -선택하신 장비일정이 비어있더라도 담당자일정을 클릭하여 일정확인바랍니다.
-대기기간이 길수록 노쇼로 이어질 확률이 높습니다. 구체적인 일정이 정해지면 예약해주시길 바랍니다.
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후방산란전자회절패턴분석기(Electron Backscatter Diffraction)는 주사전자현미경에 장착되어, 가속 전자가 시료에 주입되었을 때 반사되는 전자(후방산란전자)를 검출하여 재료의 방위(orientation)를 분석하는 장비입니다
CMOS-based Electron Backscattered Diffraction detector
▪ High speed, low noise CMOS sensor customized for EBSD
▪ Image size: 1244 x 1024 pixels (max.)
▪ Digitisation: 12 bit (on-sensor)
▪ Digital image transfer from detector to PC via high-speed CoaXPress interface
▪ Optics: custom design fibre-optic coupling, high-efficiency, high-sharpness
▪ Distortion: < 1 pixel; each camera is tested in production by imaging precisely formed grid.
▪ Acquisition speed: 400pps (resolution 312 x 256 pixels)
▪ Screen format: rectangular; matches and uses full area of sensor
▪ Standard Screen phosphor: optimised for best performance across all applications
▪ Optional High Temperature Screen: optimised for in-situ heating experiments, where IR floods the EBSD pattern
▪ Effective operation at low beam current (100pA)
SOFTWARE
• Includes all the tools necessary t o collect and solve EBSD
patterns.
• Intelligent optimisation includes:
o AutoCal functionality for data collection at a complete
range of working distances and detector insertion
distances, without the need to recalibrate.
o AutoExposure to optimise exposure time
o AutoBackground, a dynamic background routine to
compensate for change in beam conditions or material
• The unique Tru I indexing and solver engine gives the very
best quality data ensuring high hit rates with no loss of data
integrity.
• Refined Accuracy mode for the highest angular accuracy
• A new TKD optimised mode, delivers the best performance
for TKD analysis
• The capability to use the band width to sort the most
accurate solution, when distinguishing between similar
crystal structures
• EBSD Maps Phase, IPF, Euler and Pattern Quality can be
collected and viewed in real time (with or without EDS)
• EBSD Point Analysis EBSPs and a solution can be collected
and saved manually or automatically. Saved solutions can
be used for misorientation analysis be tween 2points.
• EBSD Linescan and multiple linescan EBSD data can be
collected and viewed along a single or parallel lines
(vertical or horizontal). Misorientation profile can be created
along a line.
• Patterns can be stored in a range of formats including jpeg
and tiff and stored pattenrs can be interegated post
acquisition
• Reanalysis of stored data sets off line to optimise settings or
add missing phases
• Pole figures or Inverse pole figures can be generated in real
time
Others
주사전자현미경의 부속장치인 EBSD는 후방산란전자의 회절패턴을 분석하여 시편 내 결정립의 방위를 분석하는 장치이다.
재료의 미세조직을 이루는 결정립의 방위는 금속의 변형 후 재결정시 나타나는 집합조직의 분석, 박막에서의 에피 성장, 다결정체의 입계면의 특성분석 등에 필수적인 정보이다
표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
| 구분 | 항목 | 단위 | 교외 | 교내 | 가족회사(골드) | 가족회사(실버) | 가족회사(브론즈) | 비고 |
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분석의뢰 |
기기사용료 | 시간 | 100,000 | 50,000 | 30,000 | 50,000 | 70,000 | |
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직접사용 |
기기사용료 | 시간 | 100,000 | 50,000 | 30,000 | 50,000 | 70,000 |
EBSD분석을 위한 시편준비_관련논문.pdf
