레이져를 시료표면에 조사하여 시료를 용융 또는 증발시켜 플라즈마를 만들고 그 결과로 빛을 발산하고
미세입자를 생성하는데 그 빛을 스펙트럼을 통해 파장을 분석하여 정성, 정량 분석하며, 입자를 ICP/MS분석기기로 보내어 극미량분석을 하게된다.
Tandem LA-LIBS는 무기원소 측정 장비로 경금속 원소인 Li(리튬) 뿐만 아니라 비활성 비금속원소인 F(플루오늄)도 사전 전처리 없이 측정할 수 있고, 특히 Dipping, Mapping 기능을 구사하여 3D - PCA(선별기법)능력을 발휘할 수 있고, 장비특징으로써 시료 전처리 없이 유도결합플라즈마 질량분석기 (ICP-MS)와 연동하여 극미량무기원소분석의 정성․정량 10-9(Nano Level)까지 측정할 수 있는 장점을 보유하고 있음.
⁃ Laser Type : Nd/YAG-ns 266
⁃ Laser Power : 24mJ
⁃ Laser spot size: 100㎛
⁃ 분위기 챔버구성(Ar,He사용)
⁃ 레이져 발산 깊이 :20 ~ 120 micron
⁃ Laser spot size: 120 micron
⁃ Power density: 3E109 W/cm2
# 수사과학분야, 첨단전지개발분야, 보석감정분야, 소재개발분야, 진위여부판별분야, 지질탐사 또는 광물탐사분야에
최근 첨단분석기기로서 활용되고 있다.
⁃ 주기율표상의 대부분의 원소를 검출할 수 있음
High sensitivity for low lighter elements that include Li, Be, B, C, Na, and Mg (~ ppm level)
Ability to measure organic elements such as O, H, and N
Ideal for analysis of transition metal impurity (Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Y, Hf, W, Mo, Zr, Ag, Cd, etc) (~ 10’s of ppm level)
⁃ 대기상태에서 분석가능 (no vacuum)
⁃ 분석시간이 매우 빠름
⁃ 거의 실시간으로 분석 가능 (data는 수 us 이내) 확인 및 결과 (수초 ~ 수분)
⁃ 다양한 시료분석방법이 가능
Bulk 분석
심도분석(Depth profiling)
원소분포분석 (mapping)
부분분석 (micro)
⁃ 소량, 박막형 시료에 있어서 분석능력 높음
표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
구분 | 항목 | 단위 | 교외 | 교내 | 가족회사(골드) | 가족회사(실버) | 가족회사(브론즈) | 비고 |
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분석의뢰 |
기본료 | - | 50,000 | 25,000 | 15,000 | 25,000 | 35,000 | ICP/MS 연동시 ICP/MS요금 추가 |
분해료 | 시료 | 30,000 | 15,000 | 10,000 | 15,000 | 20,000 | ||
펠렛 전처리 | 시료 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 |