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10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | 10:00 - 18:00 | X | X |
<<<<<<예약 전 안내사항>>>>>>
-선택하신 장비일정이 비어있더라도 담당자일정을 클릭하여 일정확인바랍니다.
-대기기간이 길수록 노쇼로 이어질 확률이 높습니다. 구체적인 일정이 정해지면 예약해주시길 바랍니다.
* 분석중에는 전화연결이 어렵습니다. 이메일(bk0330@seoultech.ac.kr)로 연락주시면 회신드리겠습니다. |
전자총(Electron gun)에 전압을 걸어 방출된 전자빔이 경통(Column) 내부의 여러 경로를 통해 시료의 관찰영역에 주사될 때 입사전자와 시료를 구성하고 있는 원자와의 상호작용에 의해 발생되는 여러 가지 신호 중 이차전자(Secondary electron) 혹은 후방산란전자(Back scattered electron)를 검출하여 시료의 표면을 관찰·분석하고, Energy Dispersive X-ray Spectrometer(EDS)를 이용하여 시료의 정성·정량 분석 및 화상분석(면, 선, 점 분석 및 화합물 분석)을 할 수 있다.
· Electron gun : Cold cathode field emission source
· SEI Resolution
- 1.0㎚(Vacc 15㎸, WD=4㎜)
- 1.3㎚(landing voltage 1㎸, WD=1.5㎜)
· Magnification
- Low mag mode : 20~2,000×(Magnification on Photo)
- High mag mode : 100~800,000×(Magnification on Photo)
· Accelerating voltage : 0.5㎸ to 30㎸(standard mode)
· Landing voltage : 0.1㎸ to 2.0㎸(Deceleration mode)
· Traverse range : X=0~50㎜, Y=0~50㎜, Z=1.5~30㎜, R=360°, T=-5~70°
· Max. sample size : 100㎜ dia.
· Energy Dispersive X-ray Spectrometer(EDS)
- Detector type : SDD(Silicon Drift Diode) 30㎟ active area
- Peak resolution : 127eV @ Mn standard
- Detectable elements : Be(4)~U(92)
나노수준의 미세조직 및 구조를 관찰하고, 미세입자의 크기 및 형태 등을 분석하며, Energy Dispersive X-ray Spectrometer(EDS)를 이용하여 시료의 정성·정량 분석 및 화상분석(면, 선, 점 분석 및 화합물 분석)을 할 수 있는 장비로써 이공계분야에 필수적이며, 금속, 무기재료, 반도체, 세라믹, 고분자, 생물 등 광범위한 분야에 활용된다.
표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
구분 | 항목 | 단위 | 교외 | 교내 | 가족회사(골드) | 가족회사(실버) | 가족회사(브론즈) | 비고 |
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분석의뢰 |
기기사용료 | 30분 | 70,000 | 35,000 | 21,000 | 35,000 | 49,000 | |
전처리(Coating) | 회 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | ||
EDS | 회 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | ||
기기사용료(1시간) | 시간 | 140,000 | 70,000 | 42,000 | 70,000 | 98,000 | ||
직접사용 |
기기사용료 | 30분 | 70,000 | 35,000 | 21,000 | 35,000 | 49,000 | |
전처리(Coating) | 회 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | ||
EDS | 회 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | 5,000 | ||
기기사용료(1시간) | 시간 | 140,000 | 70,000 | 42,000 | 70,000 | 98,000 |