서울과학기술대학교 공동실험실습관
>보유기기>
Scaning Probe Microscope
주사탐침현미경
  • 호실
    301
  • 제조사(모델)
    PSIA Inc. (XE-100)
  • 담당자
    최형구
  • 이메일
    hk_choi@seoultech.ac.kr
  • 연락처
    02-970-7246
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원리 및 특성
규격

(Mechanical)
- Sample size : Up to 100x100mm , 20mm thick
- Sample stage traval : 25 x 25 mm
(X-Y scanner)
- Scan size : 50 x 50 ㎛
- Resolution : < 0.15 nm
(Z-scanner)
- Scan size : 12 ㎛
- Resolution : 0.05nm
(Z-stage)
- Traval : 30nm
- Resolution : 0.08㎛

적용(응용)분야

- 용도설명 : 미세한 시료 표면의 형상, 단차, 거칠기 등 측정
- 응용분야 : 반도체의 표면 계측, 화학 및 고분자, 재료공학, 기타 표면분석 등
- 활용예시 : 미세한 시료의 표면을 3D로 관찰하고, 높이를 측정할 수 있음

사용료

표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함

구분 항목 단위 교외교내가족회사(골드)가족회사(실버)가족회사(브론즈) 비고
분석의뢰
기기사용료 시간 40,00020,00012,00020,00032,000


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