서울과학기술대학교 공동실험실습관
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X-RAY DIFFRACTOMETER
엑스선회절분석기(XRD)
  • 호실
    104
  • 제조사(모델)
    Bruker (Bruker DE/D8 Advance)
  • 담당자
    김형국
  • 이메일
    hgkim@seoultech.ac.kr
  • 연락처
    02-970-7236
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분말: 10㎛ 수준으로 분쇄한 미립 분말(325 mesh의 Sieve를 통과), 1g 이상
고형: 직경 40㎜ 이하, 두께 4㎜ 이하로 측정면은 평평해야 하며 미세연마(2,000 grit) 된 시료

원리 및 특성

- X-선은 물체에 의해 산란되어 지는데 물체를 구성하는 원자가 규칙적으로 배열 되어 있어서 각 원자에 의해 산란되는 X-선의 위상이 잘 일치하여 상호 보강 되는 경우에 회절선이 관측된다.
회절현상은 원자의 배열방법과 밀접한 관련이 있어 물질의 결정구조에 의해 X-선의 회절패턴이 정해지기 때문에 물질의 결정구조와 상태 즉, 원자의 배열과 관계가 있는 정보를 얻을 수 있다

규격

1. Goniometer
1) Measuring Circle Diameter : 560mm
2) Operational Mode : Vertical, theta/theta
3) Goniometer Angular Positioning : Stepping motor with optical encoders
4) θ-circle minimum Step size : 0.0001°
5) 2θ-circle minimum Step size : 0.0001°
6) Maximum angular speed : 20°/s
7) θ-Range : 360°
8) 2θ-Range : -60 ~ +158˚
9) Instrument Alignment : ≤±0.01° 2theta range (20°~150°)

2. X-Ray Generator
1) Power : Max. 3.0kW
2) High Voltage Range: 20-60kV
3) Current : 2-60mA
4) Voltage : 220±10V, 60Hz
5) Stability : ≤ 0.005% of 10% Variation

3. Cu X-Ray Tube
1) Insulation material : Ceramic
2) Anode material : Cu
3) Maximum power : 2.2kW
4) Type : Long Fine Focus 0.4 x12mm

4. Parabolic Multi-layer Mirror
1) Pre-figured substrate
2) Beam : Parallel
3) Diversence : ≤ 0.07°
4) For Cu radiation
5) Monochromatization: Kα line

5. Divergence beam slit assembly
1) Soller slits : 2.5°
2) Motorized divergence beam slits

6. Receiving beam slit assembly
1) Motorized Receiving beam slits
2) Automatic exchanging Slit assembly

7. Parallel beam slit for Line detector
1) Soller slits : 4°
2) Automatic exchanging Slit assembly

8. Automatic exchanger & Recognized system
1) Automatic exchanging between Parabolic Mirror and Slit assembly
2) Automatic Alignment with exchange
3) Automatic Recognized system for each slit and optic

9. High Speed Detector
1) High Resolution Energy-Dispersive 1-D Detector
2) No gas, cooling water or liquid nitrogen and maintenance-free detector
3) Wavelength range : from Cr - to Cu -radiation
4) Background noise : < 0.1 cps
5) Detecting Strip : 192 strips
6) Dynamical range : > 7.0 X106 cps
7) Large simultaneous 2theta coverage : > 3 degree, 14.4 x 16mm2
8) Spatial resolution (pitch) : 75 micron

10. Sample Loading Parts
1) 45 position Automatic sample changer
2) XYZ Motorized stage
(1) X
- Range : 25 mm
- Min step size : 0.02 mm
- Reproducibility : 0.01 mm
(2) Y
- Range : 25 mm
- Min step size : 0.02 mm
- Reproducibility : 0.01 mm
(3) Z
- Range : 25 mm
- Min step size : 0.02 mm
- Reproducibility : 0.01 mm
3) Small Cradle
(1) Phi
- Range : -720 to 720 deg
- Min step size : 0.02 deg
- Reproducibility : 0.01 deg
(2) Chi (tilt)
- Range : -5 to +95 deg
- Min step size : 0.02 deg
- Reproducibility : 0.01 deg
(3) X, Y : 12mm Manual translation
(4) Z : 2mm Manual translation

적용(응용)분야

-파우더(주) : 분말시료, 다결정 시료를 비파괴 분석. 결정의 배향성, 미소결절의 크기, 결정화도, 결정의 내부변형 등
측정가능
-박막(보조) :
-금속 스트레스(보조)
- 금속, 세라믹 등 신소재 분야, 반도체 분야, 토양재료 및 의학재료 분야 등에 응용

사용료

표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함

구분 항목 단위 교외교내가족회사(골드)가족회사(실버)가족회사(브론즈) 비고
분석의뢰
기기사용료 시료 25,00010,0007,50012,50017,500
사용료 시간 25,00010,0007,50012,50017,500
전처리(분말) 시료 6,0005,0001,8003,0004,200
전처리(기타) 시료 4,0003,0001,2002,0002,800
EVA분석 10,0005,0003,0005,0007,000


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