 |
내구년수 초과(노후화)로 폐기 예정 |
물질에 X-ray를 주사하여 나오는 물질구성 원소의 X-ray형광선을 측정하여 Na～U까지 원소를 정성분석하고, 수 ppm에서 100%까지 정량분석 하는 장비로써 시료를 비파괴 방식으로 측정하기 때문에 복잡한 전처리 없이 분석이 가능하며, 고체, 액체, 분말의 다양한 형태 시료상의 원소를 측정할 수 있다.
고분자, PCB, 반도체, 포장재 및 금속재료 분야 등에 활용되며, 학부과정의 실험․실습교육과 대학원생 및 교수의 R&D에 공동으로 활용할 수 있다.
End-window, 50W, 4～50KV, 0～1.98mA
(2) Detector Type : Si(Li) Peltier Cooled Detector <155eV
Liquid Nitrogen Free Type
(3) Analytic Method : 8 Analytical Method
(4) Primary Filter : 8 Filter Included with Vacant
(5) Digital Pulse processor : Up to 90K Count Second
- 용도설명 : 물질에 X-ray를 주사하여 나오는 물질구성 원소의 형광엑스선을 측정하여 Na~U까지 원소를 정성분석하고, 수 ppm에서 100%까지 정량분석하는 장비로써 시료를 비파괴 방식으로 측정하기 때문에 복잡한 전처리 없이 분석이 가능하며, 고체, 액체, 분말의 다양한 형태 시료상의 원소를 측정할 수 있다. 특히 최근에 RoHS 등 환경 유해 물질 규제와 관련하여 Screening 장비로 널리 활용되고 있다.
- 응용분야 : 화학성분검사, 귀금속 성분분석, 금속재료의 성분 분석
- 활용예시 : 1.고분자, PCB, 반도체, 포장재, 금속재료, 귀금속 분야 등 정성 및 정량분석
2.중금속의 함유량 및 토양 성분 분석
3.RoHS 등 환경유해물질 규제 관련 Cr, Pb, Cd, Hg, Br 등의 1차 Screenig
표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
| 구분 | 항목 | 단위 | 교외 | 교내 | 가족회사(골드) | 가족회사(실버) | 가족회사(브론즈) | 비고 |
|---|
